Archer200設(shè)備解決方案
Archer? 200套刻量測(cè)系統(tǒng)
Archer 200 套刻量測(cè)系統(tǒng)為各種不同類(lèi)型、尺寸、材料、厚度的襯底上提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確、可靠和可重復(fù)的套刻對(duì)準(zhǔn)及CD測(cè)量。可為生產(chǎn)IoT、汽車(chē)、μLED和移動(dòng)電話(huà)領(lǐng)域的產(chǎn)品的晶圓廠(chǎng)提供所需的快速、可重復(fù)和系統(tǒng)間匹配的性能及高產(chǎn)量可以實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)有效的套刻工藝監(jiān)控,并促進(jìn)大批量生產(chǎn)先進(jìn)的對(duì)準(zhǔn)顯微鏡系統(tǒng)和可變光學(xué)照射系統(tǒng)配合,適用于高、低不同對(duì)比度的工藝層測(cè)量支持Si、SiC、GaN、石英、玻璃、GaAs和其他透明材料的晶圓襯底。
5D Analyzer?:
可定制的模型和分析菜單為晶圓廠(chǎng)內(nèi)的所有步進(jìn)式、掃描式光刻機(jī)提供準(zhǔn)確的校正。多元化
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